一、產(chan) 品介紹

ZG1000係列太陽電池組件測試儀(yi) 為(wei) 直射光結構，模擬真實太陽光照射條件，可根據現場環境實現側(ce) 打光/上打光安裝模式，滿足300-1200nm全光譜，脈衝(chong) 寬度10ms至200ms可調。設備滿足行業(ye) 光譜標準：

1、A+A+A+性能；不均勻度、光譜匹配度、光強穩定度三大核心性能指標均超過行業(ye) 標準。

2、全光譜；光譜範圍滿足300-1200nm範圍，實現高效晶矽電池的全光譜測試，測試準確性大幅提高。

太陽電池組件采用四線連接，以及高速數據采集係統，確保了太陽電池電流測量的準確性。紅外無接觸式測溫，準確測出組件溫度，確保了溫度修正的準確性。

測試對象：適用於(yu) 晶體(ti) 矽太陽能電池組件（PERC、N型、IBC以及HIT等）、支持MBB、半片、疊片等組件、支持薄膜電池組件的電性能參數的測試和結果記錄及導出。

二、性能特點

◆ A+A+A+標準：高於(yu) IEC60904-9標準

◆ 300-1200nm全光譜：更加真實反映組件在各波段響應能力

◆ 適合各類電池研究實驗室及產(chan) 線

◆ 電子負載：掃描方向支持Isc→Voc和Voc→Isc兩(liang) 種模式

◆ 測量對象：PERC、N型、HIT、IBC、TOPCon、CIGS、普通晶矽等技術組件

◆ 輻照度：調節範圍可定製，最低至200 W/m²

三、技術指標